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Quadra™ 5

一家專注於半導體、集成電路、LED老化測試係統、工業自動化測試檢測產品的設計、研發、銷售以及提供相關檢測技術服務和支持的科技公司。

Quadra™ 5 X-射線檢測係統
產品描述Quadra™5 是一款 X-射線檢測係統。 適用於亞微米材料的應用如 PCB 和半導體封裝檢測、假冒成分篩選和成品質量控製。

靈活的 X-射線具有檢測到 0.35um 缺陷的功能

Quadra™5 是一款 X-射線檢測係統。
適用於亞微米材料的應用如 PCB 和半導體封裝檢測、假冒成分篩選和成品質量控製。

查看細節

·獲取關於樣品的更多信息。Quadra NT™ X-射線信號源和 Aspire FP™ 探測器由內部設計、製造和集成,專門用於製造電子產品的樣品。

·超過 30 個圖像增強濾波器,可以創建更加清晰、易於讀取的圖像,更加容易找到缺陷。

簡單即標準

·確保製造合規。用於 BGA 質量分析、凸點直徑和圓度、焊絲衝彎、焊接和 QFN 空隙的內置自動化工具,可快速查找缺陷,幫助您滿足 IPC-A-610 和 IPC-7095 合規標準。 

·使用專有控製和測量軟件,減少操作員培訓時間。鼠標輕輕一點,即可使用所有功能。

無需維修

·減少宕機時間。Quadra NT X-射線管無需進行日常維修或更換燈絲。

·可重複使用為標準。因為燈絲從未更換,因此可以確保檢測圖像清晰可見且可以重複檢驗。

·無油設計。Quadra NT 采用無油離子泵真空設計,無需換油。

Quadra 5 由多種配件組成,包括用於創建μm 級精度 3D 模型的μCT 鏡台,以及用於重建回流焊爐條件,以便實時觀察焊接工藝流程的恒溫鏡台。

Quadra NT™ X光管

X光管類型:

封閉穿透式

分辨率

0.35 μm(10W以內)0.95 μm(20W以內)

最大功率

0.35 μm(10W以內)0.95 μm(20W以內)

電壓範圍

30-160kV

Aspire FP™平板探測器

像素

300萬像

幀速率

25 fps

像素間距

50 μm

數字圖像處理

16-bit

係統

設備尺寸

1570 W x 1500 D x 1900 H mm

設備重量

1950 kg (4300 lbs)

電源

單相 200-230   VAC, 16A

典型

1KW

壓縮空氣

4-6 bar(幹燥潔淨),用於防振

環境溫度

10-30°C

環境濕度

<85% (non-condensing)

操作方式

鼠標操作

操作係統

Windows 10 64


檢測

傾斜角度視圖

70°

主動減震

AxiS 主動式X-ray 圖像穩定器

顯示分辨率(每英寸像素數)

94像素/英寸

最大檢測區域

510 x 445 mm (20 x 17.5”)

最大樣品尺寸

2,500x

最大樣品重量(標準推盤)

5kg(11 lbs)

最大樣品重量(碳纖維推盤)

樣品重量最大500g

最大總放大倍數

45,000×

顯示器

24" WUXGA單顯示器(分辨率1920×1200),固定在柔性支架上           





如需了解產品詳情,請點擊下載

Quadra 5 詳細資料

Quadra係列產品


Quadra NT™ X光管

X光管類型:

封閉穿透式

分辨率

0.35 μm(10W以內)0.95 μm(20W以內)

最大功率

0.35 μm(10W以內)0.95 μm(20W以內)

電壓範圍

30-160kV

Aspire FP™平板探測器

像素

300萬像

幀速率

25 fps

像素間距

50 μm

數字圖像處理

16-bit

係統

設備尺寸

1570 W x 1500 D x 1900 H mm

設備重量

1950 kg (4300 lbs)

電源

單相 200-230   VAC, 16A

典型

1KW

壓縮空氣

4-6 bar(幹燥潔淨),用於防振

環境溫度

10-30°C

環境濕度

<85% (non-condensing)

操作方式

鼠標操作

操作係統

Windows 10 64

檢測

傾斜角度視圖

70°

主動減震

AxiS主動式X-ray 圖像穩定器

顯示分辨率(每英寸像素數)

94像素/英寸

最大檢測區域

510 x 445 mm (20 x 17.5”)

最大樣品尺寸

2,500x

最大樣品重量(標準推盤)

5kg(11 lbs)

最大樣品重量(碳纖維推盤)

樣品重量最大500g

最大總放大倍數

45,000×

顯示器

24" WUXGA單顯示器(分辨率1920×1200),固定在柔性支架上           

靈活的 X-射線具有檢測到 0.35um 缺陷的功能

Quadra™5 是一款 X-射線檢測係統。
適用於亞微米材料的應用如 PCB 和半導體封裝檢測、假冒成分篩選和成品質量控製。

查看細節

·獲取關於樣品的更多信息。Quadra NT™ X-射線信號源和 Aspire FP™ 探測器由內部設計、製造和集成,專門用於製造電子產品的樣品。

·超過 30 個圖像增強濾波器,可以創建更加清晰、易於讀取的圖像,更加容易找到缺陷。

簡單即標準

·確保製造合規。用於 BGA 質量分析、凸點直徑和圓度、焊絲衝彎、焊接和 QFN 空隙的內置自動化工具,可快速查找缺陷,幫助您滿足 IPC-A-610 和 IPC-7095 合規標準。 

·使用專有控製和測量軟件,減少操作員培訓時間。鼠標輕輕一點,即可使用所有功能。

無需維修

·減少宕機時間。Quadra NT X-射線管無需進行日常維修或更換燈絲。

·可重複使用為標準。因為燈絲從未更換,因此可以確保檢測圖像清晰可見且可以重複檢驗。

·無油設計。Quadra NT 采用無油離子泵真空設計,無需換油。

Quadra 5 由多種配件組成,包括用於創建μm 級精度 3D 模型的μCT 鏡台,以及用於重建回流焊爐條件,以便實時觀察焊接工藝流程的恒溫鏡台。

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