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恒定濕熱試驗

檢測服務中心麵向集成電路、電子元器件、半導體、PCBA、LED、汽車電子、新材料等,為客戶提供包括無損分析、失效分析、物理性能測試、微納分析、可靠性與壽命評估、工藝製程等在內的技術解決方案。

低溫試驗是一種標準的試驗程序,用以確定經受溫度突變不致產生損傷作用的電工、電子產品(包括元件、設備及其他產品)在低溫下貯存和使用的適應性。


試驗的溫度、相對濕度表:

(30±2)℃ (93±3)%RH
(30±2)℃ (85±3)%RH
(40±2)℃ (93±3)%RH
(40±2)℃ (85±3)%RH

參考標準:GB/T 2423.3 / IEC 60068-2-78 溫度範圍:-40~ 100 \ -40~ 100
濕度範圍:20~ 98%RH 試驗周期:12h, 16h, 24h和2d, 4d, 10d, 21d, 或56d, 12h, 16h, 24h和2d, 4d, 10d, 21d, 或56d
試驗設備:

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