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低溫試驗

檢測服務中心麵向集成電路、電子元器件、半導體、PCBA、LED、汽車電子、新材料等,為客戶提供包括無損分析、失效分析、物理性能測試、微納分析、可靠性與壽命評估、工藝製程等在內的技術解決方案。

低溫試驗是一種標準的試驗程序,用以確定經受溫度突變不致產生損傷作用的電工、電子產品(包括元件、設備及其他產品)在低溫下貯存和使用的適應性。


參考標準 GB/T 2423.1 / IEC 60068-2-
測試服務 1.溫度範圍(低溫):-70~ 0 2.溫度波動:±1℃
試驗周期 2h, 16h, 72h, 96h
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